Sapphire D-6432DFT设备是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号，以及扫描/功能性测试和DC参数测量。D-6432DFT的密度比同类产品高出4倍，可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法，助其降低高速半导体器件的总体成本并缩短上市时间。

　　Sapphire D-6432DFT有效地应用了创新的远端环路技术，既具有可测性设计的灵活性，又有功能测试所具备的深层诊断能力。通过将待测器件置于高性价比的智能测试设备通道中，延长了反馈路径，也首次实现了高速总线在生产级的测试。与以往那种投资多台设备测试少量通道的碎片式方法不同，D-6432DFT集成了广泛的功能，可在单台设备上测试多达16个通道。其优势包括：

　　1. 每一通道通过集成电路实现同时的、并行的抖动注入和抖动测量，并不需要附加设备

　　2. 电压和时间域中的全封闭眼图测试

　　3. 除了极低成本的差分测试，还集成了用于扫描/功能性测试的400/800Mbps数据子系统

　　4. 增加了解决信号完整性问题的灵敏度覆盖检测

　　5. 接收器和发送器通道可用来为内核逻辑和协议堆栈提供测试向量

　　6. 用于全面DC参数测试的器件管脚存取

　　Sapphire D-6432DFT设备现已投放市场。